| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Defects in microelectronic materials and devices [electronic resource] / edited by Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf |
| ISBN | 9781420043761 |
| | 9781420043778 (e-book : PDF) |
| พิมพลักษณ์ | Boca Raton, FL. : CRC Press, c2009 |
| รูปเล่ม | xvi, 753 p. : ill |
| ลิงค์ | Taylor & Francis eBooks |
| หัวเรื่อง | Integrated circuits --Defects [] |
| | Metal oxide semiconductor field-effect transistors --Testing [] |
| | Microelectronics --Materials --Testing [] |