| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination / Yoshio Waseda |
| ผู้แต่ง | Waseda, Yoshio |
| ISBN | 3540434437 (alk. paper) : ฿9500.00 |
| พิมพลักษณ์ | New York : Springer, 2002 |
| รูปเล่ม | xiii, 214 p. : ill. ; 25 cm |
| ลิงค์ | Contents. |
| หัวเรื่อง | X-ray crystallography |
| | X-rays --Scattering [] |