| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Aberration-corrected electron microscopy [electronic resource] / edited by Peter W. Hawkes |
| ISBN | 9780123742209 |
| พิมพลักษณ์ | Amsterdam, Netherlands : Academic Press is an imprint of Elsevier, c2008 |
| ครั้งที่พิมพ์ | 1st ed |
| รูปเล่ม | xv, 538 p. : ill |
| ลิงค์ | Ebook from ScienceDirect |
| หัวเรื่อง | Transmission electron microscopy |
| | Aberration |
| | Scanning transmission electron microscopy |