| Type |  Book |
| ชื่อเรื่อง | Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge |
| ผู้แต่ง | Snyder, R. l. (robert l.) 1941- |
| ISBN | 0198501897 |
| พิมพลักษณ์ | [Chester, England] : International Union of Crystallography ;Oxford ;New York : Oxford University Press, 1999 |
| รูปเล่ม | xxii, 785 p. : ill |
| หัวเรื่อง | ]Crystals --Defects --Analysis [] |
| | Diffraction |
| | X-ray crystallography |