book cover
Type Book
ชื่อเรื่องInfluence of temperature on microelectronics and system reliability / Pradeep Lall, Michael G. Pecht and Edward B. Hakim
ผู้แต่งLall, Pradeep
ISBN0849394503
พิมพลักษณ์Boca Raton : CRC Press, c1997
รูปเล่ม307 p. : ill
หัวเรื่องElectronic apparatus and appliace --Reliability []
 Electronic apparatus and appliances --Reliability []
 Electronic packaging
 Microelectronics --Materials --Thermal properties []

1
 จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

254 ถนนพญาไท แขวงวังใหม่ เขตปทุมวัน กรุงเทพมหานคร 10330

Loading items...

2
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลพระนคร

399 ถ.สามเสน แขวงวชิรพยาบาล เขตดุสิต กรุงเทพฯ 10300

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา