book cover
Type Book
ชื่อเรื่องReliability prediction for microelectronics [electronic resource] / Joseph B. Bernstein, Alain Bensoussan and Emmanuel Bender
ผู้แต่งBernstein, Joseph b
ISBN9781394210930 (hc)
 9781394210947 (ebook)
 9781394210954 (epub)
 9781394210961 (online)
พิมพลักษณ์Hoboken, NJ : Wiley, 2024
รูปเล่ม1 online resource
ลิงค์Wiley Online Library
หัวเรื่องMicroelectronics --Reliability []

1
 มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ

แขวง วงศ์สว่าง เขต บางซื่อ กรุงเทพมหานคร 10800

Loading items...


© 2013-2019 UCTAL. All Rights Reserved.
สนับสนุนโดย สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม ThaiLIS | Power by สำนักงานบริหารเทคโนโลยีสารสนเทศเพื่อพัฒนาการศึกษา